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氦質譜檢漏儀
氦質譜檢漏技術是真空檢漏領域里不可缺少的一種技術,用這種技術檢漏,簡便易操作,儀器反映靈敏,精度高,不易受其它氣體的干擾,以上列舉的方法是檢漏技術領域里經常用道的方法,包括了從小件檢漏到大件檢漏,從確定漏孔檢漏到確定漏率檢漏,比較的列舉了各種檢漏方法,相信在工程實際應用中有很好的參考價值。
再如高氣壓會干擾離子源中電子束的正常調節(jié),還會引起高達數干伏特的離子加速電壓放電,導致損壞電離室和高壓供電線路。此外,高真空還有利于樣品的揮發(fā),減少本底的干擾,避免在電離室內發(fā)生分子一離子反應,減少圖譜的復雜性.生成的離子在運動中也必須有一定的分子自由程,否則離子間的相互作用會引起離子偏轉而到不了收集器.INFICON HLD6000維修費用
總之,在質譜測定過程中,凡是有樣品分子和離子通過以及存在的地方都必須抽成高真空。壓力要求為10-4~10-6Pa。真空系統一般包括低真級泵(機械泵)、真空泵(擴散泵和渦輪分子泵較常用)、真空測量儀表和真空閥件、管路等組成,以獲得儀器所需的高真空度.
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為了避免事故的發(fā)生,化工廠商在投建廠房時就應該對化學管道和設備做氣密檢漏并且后期生產中也需要定期檢漏。對于分裝或總裝,采用吸入法。被檢工件沖入氦-氮混合氣體,氣密性檢漏儀多少錢,利用被檢工件裝配面或疑是漏點進行找漏。檢漏儀顯示數值超過規(guī)定值即為有漏。測漏壓力應不高于設備設計壓力的25%,但不低于103MP。設備備保壓30分鐘后,用掃描率不大于25mm/秒或更慢的速度在距離焊縫表面不大于3mm的范圍內用吮吸,并應從焊縫底部至上而行。
氦檢漏設備
密封器件的氦質譜細檢漏技術細分為壓氦法(即背壓法) 和預充氦法兩種。D A Howl 等首先給出了壓氦法測量漏率Re 與等效標準漏率L 的關系,并指出該關系對應的氣流狀態(tài)為分子流,文獻指出將壓氦法測量漏率與等效標準漏率關系式中個括號刪掉,就得到預充氦法的相應關系式。無論是壓氦法還是預充氦法,在公式推導中都假定候檢期間環(huán)境大氣中不存在氦分壓。然而,實際上地球干潔大氣中含有少量氦氣;壓氦時通常會產生檢漏用氦氣對環(huán)境大氣的污染,使環(huán)境氦分壓超過地球干潔大氣中的氦分壓。因此,推導和分析環(huán)境大氣中氦分壓對壓氦法和預充氦法的影響是十分必要的。英??稻S修保養(yǎng)聯系電話
氮氣水檢漏
向系統充入10-20kg/cm2壓力氮氣,把系統浸入水中,冒泡處即為滲漏點。這種方法和前面的肥皂水檢漏方法實質一樣,雖然成本低,但有明顯的缺點:檢漏用的水分容易進入系統,導致系統內的材料受到腐蝕,同時高壓氣體也有可能對系統造成更大的損害,進行檢漏時勞動強度也很大,這樣就使維護檢修的成本上升。
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根據收集氦的不同方法,正壓法可分為正壓吸*法和正壓累積法。
正壓吸qiang法:用檢漏儀吸qiang掃描探測被檢查產品外表面,實現漏孔的準確定位;
正壓積累方法:使用具有一定密封功能的氦罩覆蓋所有檢測產品,使用泄漏檢測器測量一定時間段前后氦罩內氦濃度的變化,實現檢測產品總泄漏率的準確測量。
正壓法的優(yōu)缺點
正壓法的優(yōu)點是真空系統不需要輔助,可以準確定位,在任何工作壓力下實現檢測。
正壓法的缺點是檢測靈敏度低,檢測結果不確定,受測量環(huán)境條件影響較大。
無論是在漏點定位還是在泄漏測試應用,這種檢漏方法已經在各個行業(yè)領域內得到了廣泛使用。與氦氣相比,使用低密度的安全氫氣作為檢漏用的示蹤氣體具有很多優(yōu)勢。其價格非常低廉,冷柜內膽氦檢漏設備,很容易在各個氣體供應商處購得?,F今的氫氮混合氣檢漏技術可以檢出低至5*10-7mbar/s的泄漏,相當于0.1g/y,其氣體使用成本僅是氦氣的1/10到1/20,同時氦氣檢漏法要增加一些輔助設備,如氦氣回收系統等。
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